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光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。科学計測機器（分光光度計,光散乱光度計など）,FPD・LCD関連評価装置,医療機器（臨床検査機器）のメーカーです。大塚製薬グループ、大塚電子株式会社のWebサイトです。
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科学計測機器（分光光度計,光散乱光度計など）,FPD・LCD関連評価装置,医療機器（臨床検査機器）のメーカーです。大塚製薬グループ、大塚電子株式会社のWebサイトです。
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光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。 | otsukael.jp Reviews
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科学計測機器（分光光度計,光散乱光度計など）,FPD・LCD関連評価装置,医療機器（臨床検査機器）のメーカーです。大塚製薬グループ、大塚電子株式会社のWebサイトです。
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製品情報一覧 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
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新卒採用募集要項 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
http://www.otsukael.jp/recruit/graduate
１ 開発職 医用機器 分析機器 分光計測機器の開発設計職. ２ 技術営業職 医用機器 分析機器 分光計測機器の技術営業職. ３ フィールドエンジニア職 医用機器 分析機器 分光計測機器の納品、定期点検、修理業務. 会社説明会出席 エントリーシート提出 第1次選考試験 第2次選考試験. 残業手当、日当、通勤費 上限50,000円/月まで支給 他. 9 00 17 30. 完全週休2日制 土 日 、祝日、年末年始、夏季休暇 計画的有給. 社員寮 入社から3 5年間 寮費 9,000円/月. 大塚電子株式会社 人材開発部 E-mail: info@otsukaele.jp.
JASIS 2015 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
http://www.otsukael.jp/event/detail/eventid/100
JASIS 2015 幕張メッセ にて、弊社製品の展示および分析技術をご紹介いたします。 9月3日 木 13:20 14:10 ホテルニューオータニ幕張 N-5室、. 9月4日 金 15:30 16:20 アパホテル リゾート Ａ-8室. 2015年9月2日 水 4日 金 10:00 17:00. ゼータ電位 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000 series ELSZ-PT. コロイド粒子の分散 凝集性 相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位および粒子径 粒子径分布、分子量を測定することが可能です。 360 20,000,000. 粒子径 000001 % 0.1ppm 40 % *. ゼータ電位 0.001% 40%td. Latex112nm 0.00001 10%、タウロコール酸 40%. 電圧 0 ±30kV 、 電流 0 300μA. 動的光散乱法を用いた粒子径 粒子径分布 粒径 粒径分布 測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量 慣性半径 第二ビリアル係数の測定が可能です。 紫外 可視 近赤外 広い波長域と用途に合わせた自由な光学系をご提案.
製品情報一覧 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
http://www.otsukael.jp/product/category2/category1id/37/category2id/30
製品情報 分析機器 粒子径 粒度分布. ゼータ電位 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000ZS. ゼータ電位 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000ZS. ゼータ電位 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000ZS. 粒子径測定範囲 0.6nm 10μm 、濃度範囲 0.00001% 40% に対応。 また新たに0 90 の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性 相転移温度解析が可能です。 動的光散乱法を用いた粒子径 粒子径分布 粒径 粒径分布 測定と静的光散乱法を用いた絶対分子量 慣性半径 第二ビリアル係数の測定が可能です。 ゼータ電位 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000ZS. 粒子径測定範囲 0.6nm 10μm 、濃度範囲 0.00001% 40% に対応。 また新たに0 90 の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性 相転移温度解析が可能です。 粒子径測定範囲 0.6nm 10μm 、濃度範囲 0.00001% 40% に対応。 また新たに0 90 の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性 相転移温度解析が可能です。
粉体処理技術展2015 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
http://www.otsukael.jp/event/detail/eventid/99
2015年8月6日 木 10:30 17:00. ゼータ電位 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000 series. 粒子径測定範囲も 0.6nm 10μm 、濃度範囲 0.00001% 40% に対応。 360 20,000,000. 粒子径 000001 % 0.1ppm 40 % *. ゼータ電位 0.001% 40%td. Latex112nm 0.00001 10%、タウロコール酸 40%.
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KJF-ICOMEP2016
http://www.kjf2016.org/topics.html
KJF International Conference on Organic Materials for Electronics and Photonics 2016 (KJF-ICOMEP 2016). 1 Organic Transistors and Memories. 3 Organic EL Materials and Devices. 4 Organic Thermoelectric Conversion. 5 Optical Materials and Devices. 6 Fabrication and Characterization. 8 Biomedical Engineering and Biochip. 9 Bioelectronics and Biophotonics. 10 Other Related Topics.
KJF-ICOMEP2016
http://www.kjf2016.org/info.html
KJF International Conference on Organic Materials for Electronics and Photonics 2016 (KJF-ICOMEP 2016). Online Registration System has been CLOSED! New registration will be accepted only via On-site registration. Please click to the link to register your personal account at:. KJF-ICOMEP 2016 participants are advised to register in advance until July 15, 2016. To enjoy the early registration discount. Please refer to the registration fee listed below. Until July 15, 2016. After July 15, 2016. Please print...
製品情報一覧 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
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Product Analytical Differential Refractometer. List of New Releases. Inquiries about products after purchase. Trademarks shown herein are not registered in all countries.Where not registered, our company will replace them with other indications.
製品情報一覧 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
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Carbon Dioxide Carbon Isotope Ratio Analyzer/ Infrared Spectral Analyzer POCone. Hemoperfusion Apparatus Adamonitor MM6-N. Discrete Automated Clinical Chemistry Analyzer NS-Prime. Fluorescent Immunochromato Reader DiaScan α. Carbon Dioxide Carbon Isotope Ratio Analyzer/ Infrared Spectral Analyzer POCone. An infrared spectral analyzer that measures the change in the carbon isotope ratio (. In carbon dioxide in breath gas air. Hemoperfusion Apparatus Adamonitor MM6-N. List of New Releases.
製品情報一覧 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
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Product Spectrometry Thickness Measurement. Built-in film thickness monitor FE-3. Si Wafer Thickness Monitor. Si Wafer Thickness Monitoring System SF-3. A film thickness measurement system based on the high precision spectrophotometry features compact size and affordable price. Every necessary component is built in one body for stable measurement data. Although offered at affordable price, there is no compromise on accuracy and even optical constant analysis is possible. Si Wafer Thickness Monitor. Trade...
製品情報一覧 | 光を媒体とした技術で、常に時代の最先端を行く大塚電子。
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Product Spectrometry FPD Evaluation. High Sensitive Spectroradiometer HS-1000. Color Filter Spectral Inspection System LCF series. LCD Cell Gap Measurement RETS series. LCD Evaluation System (Panel/Module measurement). Goniophotometric Measurement System GP series. High-speed Goniophotometric Measurement System GP-7. High Sensitive Spectroradiometer HS-1000. Color Filter Spectral Inspection System LCF series. LCD Cell Gap Measurement RETS series. LCD Evaluation System (Panel/Module measurement). Trademar...
Contact | Inquiries about products after purchase | Creation of new technologies with optics applications
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Inquiries about products after purchase. Inquiries about products after purchase. Please use the form below for inquiries about after-sales services (repair, inspection and calibration), and consultations and inquiries about the products you already bought. Please complete the form below and click on the "Confirm" button. ( Fields marked with an * are required. Please do not use the machine-dependent characters. That lead to mistaken display. Please note that, in case of each blanks left incorrectly.
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Product Spectrometry In-Process Evaluation. LCD Cell Gap Measurement RETS series. Built-in film thickness monitor FE-3. Color Filter Spectral Inspection System LCF series. High-speed LED Spectrometer LE series. Si Wafer Thickness Monitoring System SF-3. Built-in film thickness monitor FE-3. Si Wafer Thickness Monitoring System SF-3. Retardation film and material evaluation system RETS-100. Built-in film thickness monitor FE-3. LCD Cell Gap Measurement RETS series. Built-in film thickness monitor FE-3.
大塚科技股份有限公司/產品總覽(液晶顯示器) | Otsuka Tech Electronics Co., Ltd
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大塚科技股份有限公司/產品總覽(利子物性ELSZ-PT) | Otsuka Tech Electronics Co., Ltd
http://otsuka-tw.com/products/cate2/elszpt
約10 40mL / min. 3種類 酸 / 鹼 / 添加劑，獨立注入控制. 250(W) x 310(D) x 290(H) mm. AC100V 50 / 60Hz 55VA.
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大塚・栄一クリニック
Otsuka Eiichi Clinic 公式ホームページ. 双極性障害 パニック障害 不眠症 自律神経失調症 あがり症. 適応障害 過敏性腸症候群 線維筋痛症 不安障害 強迫性障害. 舌痛症 顎関節症 口腔乾燥症 月経前症候群. 心療内科 内科 アレルギー科 歯科 口腔心療科. パニック障害、睡眠障害、うつ病、うつ状態、自律神経失調症、 線維筋痛症、過敏性腸症候群、過換気症候群、舌痛症、顎関節症、ストレスや生活習慣を背景とした内科、歯科疾患 高血圧、歯周病等 などが主な 治療対象です。 医師、歯科医師、臨床心理士、カウンセラー、管理栄養士、保健師、看護師、 精神保健福祉士が協力し 親切なコミュニケーション を大切にしております。 電話 03-3987-8110 and 03-3971-3751.
한국오츠카전자
Creation of new technologies with optics applications
Contribute to better health for people in clinical testing and medical devices by bringing all the latest technologies together. To see measurement items. Apply light-scattering method as the core technology of new material analysis to the versatile fields. To see measurement items. Explore new world with spectrometer technologies and extensive analytical knowledge. To see measurement items. Product High Sensitivity NIR Quantum Efficiency Measurement System QE-5000. English website was remodeled.
大塚电子(苏州)有限公司
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技術セミナー in 千葉 新潟 埼玉 福岡 札幌 を開催いたします. ゼータ電位 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000ZS を掲載しました. 粒径 分子量測定システム ELSZ-2000S を掲載しました. 技術セミナー in 千葉 新潟 埼玉 福岡 札幌 を開催いたします.
九州・宮崎県川南町のお茶農家 大塚園
シミ相談室
大塚ファーム 北海道新篠津村の有機野菜
TEL FAX: 0126 57-2573. ＨＰ: http:/ otsukafarm.com/. E-Mail: mini@coral.ocn.ne.jp.
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