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日本電子株式会社 －Solutions for Innovation－日本電子（JEOL）のオフィシャルサイト。電子顕微鏡のトップメーカー。分析機器・医用機器・半導体関連機器・産業機器の製造・販売・開発・研究も手がける。YOKOGUSHI戦略をGLOBALに展開中。
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日本電子株式会社 －Solutions for Innovation－ | jeol.co.jp Reviews
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ライカEM UC7 常温 切片作製用ウルトラミクロトームシステムのご紹介. 初歩から学ぶNMRの基礎と応用 竹内敬人著 朝倉書店 の付録です。
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ニュースリリース | 新型卓上走査電子顕微鏡JCM-6000Plus NeoScope™を販売開始 － 高感度半導体検出器を搭載、解析・分析の効率化を実現 － | JEOL 日本電子株式会社
https://www.jeol.co.jp/news/detail/20150806.1258.html
新型卓上走査電子顕微鏡JCM-6000Plus NeoScope を販売開始 高感度半導体検出器を搭載、解析 分析の効率化を実現. 日本電子株式会社 代表取締役社長 栗原 権右衛門 は、多様化する顧客ニーズや拡大する市場に対応するため、新型卓上走査電子顕微鏡JCM-6000Plus NeoScope を開発し、2015年8月より販売を開始します. 5kV 10kV 15kV 3段切替. 移動範囲 X 35mm Y 35mm.
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To all NMR Users Contact us for details about a special console replacement opportunity! BS-60211DEM/BS-60210DEM Electron Beam Source. JMS-S3000 SpiralTOF Imaging Applications Notebook, Edition May 2016. JMS-S3000 SpiralTOF Biomolecules Applications Notebook, Edition July 2016. JMS-S3000 SpiralTOF Polymers, Materials and Chemistry Applications Notebook, Edition July 2016. Two terms have been added to the Glossary of TEM Terms. DART Applications Notebook, Edition April 2016. Release of the new Scanning El...
受託分析｜サポート｜日本電子
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分析結果を確認しながら、リアルタイムに分析箇所や条件の指定ができ、時間内 9 00 16 00の6時間 での試料数に制限はありません。 月 金 8:30 19:00. 月 金 8:30 17:20. 月 金 8:30 20:00.
年末年始連休中のサービス対応につきまして | サポート | JEOL 日本電子株式会社
https://www.jeol.co.jp/news/detail/20141215.967.html
2014年12月27日 土 2015年1月4日 日.
ご利用にあたって｜日本電子
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本ウェブサイトは日本電子株式会社 以下 当社 と表記します が、作成 運営 管理 しております。 ご連絡は下記 お問い合わせ先 またはWebサイトの お問い合わせページ よりお願い致します。 Internet Explorer 8以上、Google Chrome22以上. URL http:/ www.youtube.com/user/JEOLG. 日本電子株式会社 ブランド戦略室 デザイングループ WEBチーム. 受付時間 土 日 祝祭日を除く 午前9時 午後5時.
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賛助会員一覧：一般社団法人 宮城県臨床検査技師会
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一般社団法人 宮城県臨床検査技師会 Miyagi Association of Medical Technologiets.
ＥＤＸに関するブログ: ＥＤＸの分解能３
http://edxforvendetta.blogspot.com/2010/10/blog-post_4602.html
ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． ＥＤＸの分解能って，結局なんなのかって言うと，いかにしてシャープなピークを得ることができるか！って感じじゃないでしょうか．でも，多くの希土類元素を含むようなヘンテコな試料を除けば，カルシウム（Ｃａ）より原子番号の大きいピークは，重なり合うこともないので，こういうこだわりは無視すればいいのですが，軽元素（ホウ素Ｂから窒素Ｎくらいまで）の定量分析に分解能の値が影響します．具体的には，以下のスペクトラムを見てください． たまに画像をお借りしてる４ｐｉさんは，１２９－１３２ｅＶ程度のエネルギー分解能を持つ検出器が開発されております．これらの値は，分析対象物が何であるかの場合に考えなくてはなりませんけど，あんまり気にしなくてもいいんじゃないでしょうか？ｗエネルギー分解能が良ければ，正しい定量分析ができるって訳ではありませんからね！
ＥＤＸに関するブログ: ＥＤＸの定量分析１
http://edxforvendetta.blogspot.com/2010/10/blog-post_8331.html
ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． ＥＤＸでも他の装置でも，定量分析と言えば，未知試料（unknown sample）と標準試料（standard sample）の強度を測定して，その値を補正してから元素濃度を求めるのが一般的なやり方です． 12288;ＥＤＸによって取り込まれた特性Ｘ線の強度は，加速電圧や試料電流，検出器の取り出し角にとても依存しているので，これらの条件を同一にして未知試料と標準試料の特性Ｘ線強度を求める必要があります．また，若干ではありますが，炭素蒸着の厚さやユーザーの熟練度によっても分析値に影響が出てくるかもしれません． 12288;例えば，Ａ元素について，未知試料の特性Ｘ線強度をＩ. この相対強度Ｋ（Ａ）に補正係数Ｇ（Ａ）をかけると，Ａ元素の濃度Ｃ. もう少し詳しく書くとすれば，補正計数Ｇ（Ａ）は. 215;Ｇ（補正計算法によって得られた値）×Ｇ（ユーザーの熟練度）.
ＥＤＸに関するブログ: ＥＤＸ検出器
http://edxforvendetta.blogspot.com/2000/03/blog-post_03.html
ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． ＥＤＸ検出器って，一般的には，Ｓｉ（Ｌｉ）検出器やシリコンドリフト検出器などの半導体検出器で構成されています．ＥＤＸ検出器に飛び込んできたＸ線は，そのエネルギーに比例した数の電子ー正孔対を作るので，それを電流として取り出すことによって飛び込んできたＸ線のエネルギーを知ることができるっていうものなのです． Ｓｉ（Ｌｉ）検出器（Silicon detector, Solid State Detector: SSD)っていうのは，シリコン単結晶にリチウムをドリフトさせて作った半導体検出器です．ふつうは，リチウムの拡散の防止と電機ノイズを低減させるために液体窒素で常時冷却しておかなければなりません．
ＥＤＸに関するブログ: 定量補正計算１：ＺＡＦ補正；原子番号補正(Z)
http://edxforvendetta.blogspot.com/2010/10/z.html
ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． 最近ふと思ったけど，こういう記事を書く場合の英数字って，半角がいいのかな？全角がいいのかな？ただそれだけですけどね，，，. 試料へ照射される入射原子は，構成原子の相互作用により，試料内部へ散乱していく侵入電子と試料表面より外部に放出される後方散乱電子(backscattered electron)に分かれます．この割合は，構成原子と入射電子のエネルギーによって変化します．平均原子番号(=ΣC. 12288; S=阻止能(stopping power factor). 12288; R=後方散乱因子(backscatter factor). 阻止能や後方散乱因子については，1960年代に数多く提案されました．その後にも，検討は続いております．たくさんの実験式がありますが，ここでは全てを網羅するのは大変なので，一部紹介してみます． 12288;S=(Z/A)×ln(1.116×E/J). 12288;Z=原子番号, A=原子量.
ＥＤＸに関するブログ: 定量補正計算１：ＺＡＦ補正；概略
http://edxforvendetta.blogspot.com/2010/10/blog-post_9070.html
ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． どうもボクです． 定量補正計算について書いてみることにしました．これが結構ながくなるんだわ．何回かに分けて書く予定． 前にも書いたけど，定量分析で元素の濃度を求めるには，未知試料に含まれる元素の特性Ｘ線強度と，同一の元素を含み化学組成が既知の標準試料の特性Ｘ線強度を測定します．その強度比Ｋ. Relative intensity, K-ratio)は，次のようして表されます． 各補正について，おいらは，そんなに詳しくないけれど，簡単に説明するとすれば，.
ＥＤＸに関するブログ: ＥＤＸの分解能
http://edxforvendetta.blogspot.com/2010/10/blog-post_1221.html
ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． ＥＤＸのエネルギー分解能って分析にかなり影響されるのですが，今回は，そのエネルギー分解能についてちょっと書いてみたいと思います． エネルギー分解能は，通常ＭｎのＫα線（５．８９５ｋｅＶ）の半値幅（full width at half maximum；fwhm）の値を用いています．以下に模式図を示します，. これって，単に半値幅と言うときが多いけれど，正確には半値全幅と呼びます．（ボクも今まで知らなかった・・・まぁ英語をちゃんと訳したらこうなるよねｗ）. あ，今までなんにも書かなかったけど，ＥＤＸのスペクトラムのピークって大体ガウス分布≒正規分布と見なすことができます．ガウス分布の数式って. と書きます．で，これを展開すると，. 正規分布の半値幅は，標準偏差 σ の約２．３５倍であることが判ります．
ＥＤＸに関するブログ: 定量補正計算１：ＺＡＦ補正；吸収補正(A)
http://edxforvendetta.blogspot.com/2010/10/blog-post_7974.html
ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． 試料に侵入した電子は，原子による散乱を受けながらエネルギーを失っていきます．この散乱過程で電子殻の内殻をイオン化して特性X線を発生するのですが，特性X線の発生強度は深さ方向に分布を持った形と見なすことができます．そして，ある深さで発生したX線は，試料表面に放出されるまでに構成元素によって吸収を受けながら減衰していきます．この吸収量を補正するのが吸収補正(absorption correction)です．ちなみに，ZAF補正を回すときは，この吸収補正から計算を開始させます． 12288;X線の吸収量は，構成元素の質量吸収係数(μ/ρ)とX線検出器の取り出し角θで定義された変数χに依存します；. 12288;χ=(μ/ρ)×csc θ. 12288;f(χ)=(1 h)/( 1 χ/σ)×(1 h(1 χ/σ) ). 12288;σ=レナード定数(例えば，2.39×10.
ＥＤＸに関するブログ: ＥＤＸの定量分析２
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ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． ＥＤＸによる定量分析には，大きく分けて二通りあります．一つめは， 前の記事で書いた. 相対強度を求める方法です．もう一つは，実は標準試料を用いなくても定量分析が行えます．それをスタンダードレス法（standardless correction）と呼びます． 12288;また今度， 前の記事で書いた. 相対強度を求めてからの補正計算法なのですが，数多く提案されております．その中で有名なのが，. 12288;φ（ρｚ）補正. の３つです．また，あまり使われていないけど検量線法などもあります． どの補正法を使うにしても，重要なのはＸ線スペクトラムの波形処理を正確に行うことなのです．波形処理が不十分であれば，正しい定量分析は行えないと思っております．まぁでも，それについてはユーザーサイドで要求する分析精度の程度に依存しますけどね．
ＥＤＸに関するブログ: ＥＤＸスペクトラム２
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ＥＤＸについて，気になったことを書いてみよう！こんなブログあってもいいんじゃない！？って感じで作成しています． 間違い等がありましたら，コメント欄にご記入いただければ幸いです． まず，ＥＤＸスペクトラムは，だいたいですが，分析対象微少領域の化学組成を反映しています．これまた，だいたいですが，各元素のピークは，化学組成に比例して，大きくなったり小さくなったりします．このようなピークのことを特性Ｘ線（characteristic X-ray）と呼ぶみたいです． 特性Ｘ線について説明しますと，，，. 原子が物理的に安定するのは，電子核に電子が満たされている状態であるときで，それを基底状態と呼びます．この基底状態にある原子に，電子を照射して内殻電子を放出させると，そこに空孔が生じて不安定な励起状態になります． 4 Be 0.109. 10 Ne 0.849. ちなみに，各元素のエネルギーは，波長分散法で用いる波長値と反比例の関係にあります． エネルギー Ｅ（ｅＶ）＝１２３９９／λ（波長：Å）. 波長分散法については，気が向くまで書くつもりはありません；；.
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东莞市协美电子有限公司Star Joy Limited主要代理 日本扫描电镜. JSM-6010PLUS/LA InTouchScope™多功能通用型扫描电镜，采用新的操作. ED-2300/2300F 的Analysis Station能谱仪是以 图像观察和分析 为基本理念的TEM/EDS集成系统。 软X射线分析能谱仪 SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer 通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 JSM-6010PLUS/LA InTouchScope™多功能通用型扫描电镜，采用新的操作画面和触控屏，操. JSM-6010PLUS/LA InTouchScope™多功能通用型扫描电镜，采用新的操作画面和触控屏，操.
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成膜関連機器 (電子銃 プラズマ源 他). 成膜関連機器 (電子銃 プラズマ源 他). 電子スピン共鳴装置(ESR)にER170007 材料のESR - 電気検出磁気共鳴 - を掲載しました. データ処理専用 Delta NMR Software for Processing 無料試用版がv5.2.1へバージョンアップ. 定期講習会 TEM/SEM/EPMA/MS/NMR の日程 4月 7月 を掲載しました. SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (東京). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (仙台). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (福岡). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (大阪). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (名古屋). 走査電子顕微鏡 JSM-IT200 プレミアセミナー 西日本SC. INTRODUCTION TO JEOL PRODUCTS.
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JEOL is a leading global supplier of electron microscopes, ion beam instruments, mass spectrometers and NMR spectrometers. Welcome to JEOL Brasil. JEOL is a leading supplier of electron microscopes and scientific instrumentation. JEOL Ltd. headquarters are in Akishima, Japan with JEOL USA headquarters in Peabody, Massachusetts. JEOL Ltd and JEOL USA together established the office in São Paulo, Brasil to support its growing installed base in South America. The US. office serves the western hemisphere...
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JEOL is a leading global supplier of electron microscopes, ion beam instruments, mass spectrometers and NMR spectrometers. Our product lines for imaging and analysis include:. High resolution electron microscopes, including a full range of scanning electron microscopes (SEMs) and transmission electron microscopes (TEMs). Analytical instruments, including a line of high-resolution mass spectrometers (mass spec), nuclear magnetic resonance (NMRs), and electron spin resonance (ESRs) instruments. JEOL instru...
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